Contact
Hoe winkelen bij ons werkt
Bezorging
Winkelgids
Advanced Test Methods for SRAMs
Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Engels
290 b
Retourneren binnen 30 dagen
Klanten kochten ook
/
Gebonden (paperback)
44.45
€
/
Gebonden (paperback)
31.11
€
Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an invaluable guide to the testing and diagnostics of the latest generation of SRAM, one of the most widely applied types of memory. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called "static faults," but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new fault models, referred to as "dynamic faults", are not covered by classical test solutions and require the dedicated test sequences presented in this book.
Informatie over het boek
Engels
Categorieën
Geef dit boek vandaag nog cadeau
Dat gaat heel eenvoudig
1 Voeg het boek toe aan je winkelwagentje en selecteer Als cadeau bezorgen 2 Je krijgt van ons per omgaand een voucher 3 Het boek wordt bezorgd op het adres van de ontvangerDit vind je misschien ook interessant
/
Gebonden (paperback)
15.75
€
/
Gebonden (paperback)
19.29
€
