Gratis verzending vanaf 59,99 euro.

Status van bestelling controleren

Word lid van een gemeenschap van boekenliefhebbers van over de hele wereld en krijg een heleboel voordelen. Gratis account aanmaken

Gratis bezorging met Zásilkovna boven 59.99 €

DPD koerier 5.49 € DHL koeriersdienst 5.49 € GLS koerier 4.99 € DPD-punt 3.99 €

Contact

Hoe winkelen bij ons werkt

Help

Mijn account

▸ Leeg :-(

Gratis verzending vanaf 59,99 euro.

Advances in X-Ray Analysis

Name: Advances in X-Ray Analysis
Brand: Springer Science+Business Media
SKU: 01377532
Price: 95.25 EUR
Availability: InStock
Author: Charles S. Barrett
ISBN: 9780306436154

Volume 33

Taal

Engels

Boek Gebonden (harde band)

Libristo-code: 01377532

Uitgeverij Springer Science+Business Media, augustus 1990

The 38th Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held July 31 - August 4, 198... Volledige beschrijving

Libristo-code: 01377532

231 b

95.25 €

50% kans We doorzoeken de hele wereld Wanneer krijg ik het boek?

Tot 30 dagen retourrecht

Klanten kochten ook

Krótki kurs Tradycyjnej Medycyny Chińskiej Li Wu

Gebonden (paperback)

9.48 €

Gaudeamus Joseph Victor Von Scheffel

Gebonden (harde band)

17.85 €

Apnée obstructive du sommeil Gangadhar S. Angadi

Gebonden (paperback)

54.18 €

Hannah y sus hermanas ALLEN

Gebonden (paperback)

7.96 €

Appien, Histoire Romaine: Le Livre Africain Paul Goukowsky

Gebonden (paperback)

70.32 €

Dominique 2: Hon kanner allas lustar Stone

MP3

3.12 €

Na duge pruge Catriona Menzies-Pike

Gebonden (paperback)

14.62 €

Kriminalität, Kriminalpolitik, strafrechtliche Sanktionspraxis und Gefangenenraten im europäischen Vergleich Frieder Dünkel

Gebonden (paperback)

40.05 €

FacturaPlus Alicia Jiménez García

Gebonden (paperback)

28.65 €

Teikningar Marcel Candido Da Silva

Gebonden (paperback)

17.45 €

Mantras Of Light, 1 Audio-CD Julia Elena

Audio cd

18.86 €

Le château absolu Patier

Gebonden (paperback)

26.63 €

L'âme chevillée au corps Ève Lerner

Gebonden (paperback)

21.58 €

Comment peut-on être cosmopolite ? Alain Policar

Gebonden (harde band)

20.58 €

Histoires du soir pour mes 3 ans Boek

binding.

17.85 €

L'Ensorcelee (Ed.1878) Juless Barbey D'Aurevilly

Gebonden (paperback)

26.63 €

Estrategias Pedagogicas Para La Ensenanza de La Afrocolombianidad Alex Mauricio Torres Ramírez

Gebonden (paperback)

25.92 €

Modellbasierte Investitionsplanung Produktionsbezogener Umweltschutzmassnahmen Ina Schlei-Peters

Gebonden (paperback)

52.97 €

L'Inde Face La Chine En Afrique Elodie René

Gebonden (paperback)

60.94 €

PROU DE NADALES! DIDAC BOTELLA

Gebonden (harde band)

16.54 €

Ćwiczenia grafomotoryczne dla klas IV-VIII Boksa Ewa

Gebonden (paperback)

7.86 €

The 38th Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held July 31 - August 4, 1989, at the Sheraton Denver Technical Center, Denver, Colorado. The conference alternates emphasis between x-ray diffraction and x-ray fluorescence, and this being an odd year the emphasis was on diffraction. Thus the Plenary Session was slanted toward diffraction in general and thin film analysis in particular. The Plenary Session on x-ray analysis of thin films did not just happen this year but really began four years ago with Paul Predecki suggesting a special session devoted to thin film techniques. The session generated a great deal of interest, so Paul suggested that a workshop on thin films should be slated for the 1987 conference. A full day was devoted to the workshop, which was split into a half day on epitaxial thin films and the other half day on polycrystalline thin films. The workshop attendance indicated a great deal of interest in this topic, leading to this year's Plenary Session. The first two speakers of the Plenary Session (B. Tanner and K. Bowen) have been key throughout the thin film activities. They were invited speakers for the 1985 special session on thin films and instructors for the 1987 workshop on epitaxial thin films.

Actrice & Polyglot

EWA KASP voor

Video afspelen

Libristo heeft de grootste selectie boeken in vreemde talen. Daarom koop ik mijn boeken hier.

Informatie over het boek

Volledige naam Advances in X-Ray Analysis

Auteur Charles S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins

Taal

Engels

Bindwijze Boek - Gebonden (harde band)

Datum van uitgifte 1990

Aantal pagina's 704

EAN 9780306436154

ISBN 0306436159

Libristo-code 01377532

Uitgeverij Springer Science+Business Media

Gewicht 1430

Categorieën

Wiskunde en wetenschap > Chemie > Analytische chemie > Spectrumanalyse, spectrochemie, massaspectrometrie

Wiskunde en wetenschap > Fysica > Kernfysica

Wiskunde en wetenschap > Fysica > Kwantumfysica (kwantummechanica en kwantumveldentheorie)

Technologie, techniek, landbouw, industriële processen > Werktuigbouwkunde en werktuigbouwkundige materialen > Materiaalkunde

Geef dit boek vandaag nog cadeau

Dat gaat heel eenvoudig

1 Voeg het boek toe aan je winkelwagentje en selecteer Als cadeau bezorgen 2 Je krijgt van ons per omgaand een voucher 3 Het boek wordt bezorgd op het adres van de ontvanger