Niet blij met je aankoop? Geeft niet! Bij ons kun je binnen 30 dagen retourneren
Met een cadeaubon zit je altijd goed. De ontvanger kan de cadeaubon voor alles uit ons assortiment inwisselen.
Retourneren binnen 30 dagen
This book introduces and details the key facets of Combined Analysis - an x-ray and/or neutron scattering methodology which combines structural, textural, stress, microstructural, phase, layer, or other relevant variable or property analyses in a single approach. The text starts with basic theories related to diffraction by polycrystals and some of the most common combined analysis instrumental set-ups are detailed. Also discussed are microstructures of powder diffraction profiles; quantitative phase analysis from the Rietveld analysis; residual stress analysis for isotropic and anisotropic materials; specular x-ray reflectivity, and the various associated models.
Hoi! Ik ben Libroamiko, je boekadviseur.
Hoe kan ik je helpen?