Gratis verzending vanaf 59,99 euro.

Status van bestelling controleren

Word lid van een gemeenschap van boekenliefhebbers van over de hele wereld en krijg een heleboel voordelen. Gratis account aanmaken

Gratis bezorging met Zásilkovna boven 59.99 €

DPD koerier 5.49 € DHL koeriersdienst 5.49 € GLS koerier 4.99 € DPD-punt 3.99 €

Contact

Hoe winkelen bij ons werkt

Help

Mijn account

▸ Leeg :-(

Gratis verzending vanaf 59,99 euro.

Materials Reliability in Microelectronics VIII: Volume 516

Name: Materials Reliability in Microelectronics VIII: Volume 516
Brand: Materials Research Society
SKU: 02060167
Price: 26.59 EUR
Availability: PreOrder
Author: John C. BravmanThomas N. MariebJames R. LloydMatt A. Korhonen
ISBN: 9781558994225

John C. BravmanThomas N. MariebJames R. LloydMatt A. Korhonen

Taal

Engels

Boek Gebonden (harde band)

Libristo-code: 02060167

Uitgeverij Materials Research Society, november 1998

Reliability concerns have forced interconnect systems to scale more slowly than devices. As a result... Volledige beschrijving

Libristo-code: 02060167

64 b

Wordt verwacht

26.59 €

Verwachte herdruk

Datum onbekend

Tot 30 dagen retourrecht

Klanten kochten ook

Perry Rhodan - Mechanica William Voltz

Gebonden (harde band)

23.46 €

Formacion de biofilms en equipos de procesamiento de jugos de fruta Lorena Brugnoni

Gebonden (paperback)

34.89 €

Excursion En Astarac Et Comminges: 30 Avril Et 1er Mai 1907 Lavergne-A

Gebonden (paperback)

13.65 €

Espaces maritimes et territoires marins GUILLAUME

Gebonden (paperback)

31.05 €

Reliability concerns have forced interconnect systems to scale more slowly than devices. As a result, reliability engineers and scientists are now responsible for much of the performance and lifetime gains anticipated in the microelectronics industry. To achieve these gains, the interconnect must be viewed as a complex system with many types of reliability issues. A critical understanding of electromigration, stress-induced voiding, mechanical integrity, thermal performance, chemical effects, and oxide reliability are necessary. And of course, new models and materials will likely be necessary to improve the interconnect system for future needs. This book brings together researchers from academia and industry to discuss fundamental mechanisms and phenomena in the reliability field. Topics include: novel measurement techniques; microstructural effects; reliability modelling; stress effects; advanced inter-connect reliability; adhesion and fracture; and packaging reliability issues.

Actrice & Polyglot

EWA KASP voor

Video afspelen

Libristo heeft de grootste selectie boeken in vreemde talen. Daarom koop ik mijn boeken hier.

Informatie over het boek

Volledige naam Materials Reliability in Microelectronics VIII: Volume 516

Auteur John C. BravmanThomas N. MariebJames R. LloydMatt A. Korhonen

Taal

Engels

Bindwijze Boek - Gebonden (harde band)

Datum van uitgifte 1998

Aantal pagina's 365

EAN 9781558994225

ISBN 155899422X

Libristo-code 02060167

Uitgeverij Materials Research Society

Gewicht 682

Afmetingen 160 x 234 x 23

Categorieën

Technologie, techniek, landbouw, industriële processen > Werktuigbouwkunde en werktuigbouwkundige materialen > Materiaalkunde

Technologie, techniek, landbouw, industriële processen > Elektronica en communicatietechnologie > Elektronicatechnologie

Geef dit boek vandaag nog cadeau

Dat gaat heel eenvoudig

1 Voeg het boek toe aan je winkelwagentje en selecteer Als cadeau bezorgen 2 Je krijgt van ons per omgaand een voucher 3 Het boek wordt bezorgd op het adres van de ontvanger