Contact
Hoe winkelen bij ons werkt
Bezorging
Winkelgids
Scanning Electron Microscopy
Engels
307 b
Retourneren binnen 30 dagen
Klanten kochten ook
/
Gebonden (paperback)
40.66
€
/
Gebonden (paperback)
18.40
€
Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments employed in various science fields. SEMs are well instrumented and supplemented with advanced techniques and methods and thereby present endless possibilities in the areas of quantitative measurement of object topologies, surface imaging, performing elemental analysis and local electrophysical characteristics of semiconductor structures. Creation of micro and nanostructures involves extensive use of fine focused e-beam. This book focuses on various issues concerned with scanning electron microscopy, covering both theoretical and practical aspects. Numerous topics are organized under two sections, "Material Science" and "Nanostructured Materials for Electronic Industry". This book includes contributions by renowned researchers and experts in this field.
Informatie over het boek
Engels
Geef dit boek vandaag nog cadeau
Dat gaat heel eenvoudig
1 Voeg het boek toe aan je winkelwagentje en selecteer Als cadeau bezorgen 2 Je krijgt van ons per omgaand een voucher 3 Het boek wordt bezorgd op het adres van de ontvangerDit vind je misschien ook interessant
/
Gebonden (harde band)
105.01
€
/
Gebonden (harde band)
31.66
€
/
Gebonden (harde band)
139.72
€
/
Gebonden (paperback)
5.76
€
/
Gebonden (paperback)
19.32
€
