Contact
Hoe winkelen bij ons werkt
Bezorging
Winkelgids
Semiconductor Memory Testing
Fault Models and Test Considerations for High Performance Embedded SRAM's
Engels
127 b
Retourneren binnen 30 dagen
Klanten kochten ook
Stringent test quality requirements, at-speed test limitations & total cost associated with using expensive off-chip testers for embedded memory testing have forced system designers to introduce on-chip Memory Built-in Self Test (MBIST) techniques to generate, apply, read and compares test patterns in order to expose subtle defects of SRAM''s. The book discusses in detail the various fault models and test requirements associated with embedded SRAM s in today s System-On-Chip s and focuses on the implementation of testing algorithms for embedded SRAMs in the MBIST engine. The book also discusses a finding where failure analysis and silicon debug required an update to the algorithms and pattern backgrounds implemented in the MBIST.
Informatie over het boek
Engels
Geef dit boek vandaag nog cadeau
Dat gaat heel eenvoudig
1 Voeg het boek toe aan je winkelwagentje en selecteer Als cadeau bezorgen 2 Je krijgt van ons per omgaand een voucher 3 Het boek wordt bezorgd op het adres van de ontvangerDit vind je misschien ook interessant
/
Gebonden (harde band)
103.09
€
/
Gebonden (paperback)
51.69
€
/
Gebonden (harde band)
248.89
€
/
Gebonden (paperback)
51.69
€
