Gratis verzending vanaf 59,99 euro.

Status van bestelling controleren

Word lid van een gemeenschap van boekenliefhebbers van over de hele wereld en krijg een heleboel voordelen. Gratis account aanmaken

Gratis bezorging met Zásilkovna boven 59.99 €

DPD koerier 5.49 € DHL koeriersdienst 5.49 € GLS koerier 4.99 € DPD-punt 3.99 €

Contact

Hoe winkelen bij ons werkt

Help

Mijn account

▸ Leeg :-(

Gratis verzending vanaf 59,99 euro.

VLSI Test Principles and Architectures

Name: VLSI Test Principles and Architectures
Brand: Elsevier Science & Technology
SKU: 02703621
Price: 77.26 EUR
Availability: InStock
Author: Laung-Terng Wang
ISBN: 9780123705976

Laung-Terng Wang

Taal

Engels

Boek Gebonden (harde band)

Libristo-code: 02703621

Uitgeverij Elsevier Science & Technology, augustus 2006

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a tes... Volledige beschrijving

Libristo-code: 02703621

187 b

77.26 €

Te bestellen bij de uitgever Wordt binnen 28-34 dagen verzonden

Tot 30 dagen retourrecht

Klanten kochten ook

Diario de un patriota complutense en la guerra de la Independencia Juan Domingo Palomar

Gebonden (paperback)

16.98 €

Aus dem Leben des Generals Heinrich von Brandt Heinrich von Brandt

Gebonden (paperback)

31.24 €

Europa en la Edad Media: Una nueva interpretación CHRIS WICKHAM

Gebonden (paperback)

34.48 €

Prehľadová tabulka učiva Prehľad autorov svetovej literatúry II. Dominika Nagyová

Blad

1.71 €

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume. Most up-to-date coverage of design for testability. Coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools but not discussed in other books. Numerous, practical examples in each chapter illustrating basic VLSI test principles and DFT architectures. Lecture slides and exercise solutions for all chapters are now available. Instructors are also eligible for downloading PPT slide files and MSWORD solutions files from the manual website.

Actrice & Polyglot

EWA KASP voor

Video afspelen

Libristo heeft de grootste selectie boeken in vreemde talen. Daarom koop ik mijn boeken hier.

Informatie over het boek

Volledige naam VLSI Test Principles and Architectures

Auteur Laung-Terng Wang

Taal

Engels

Bindwijze Boek - Gebonden (harde band)

Datum van uitgifte 2006

Aantal pagina's 808

EAN 9780123705976

ISBN 0123705975

Libristo-code 02703621

Uitgeverij Elsevier Science & Technology

Gewicht 1806

Afmetingen 200 x 241 x 51

Categorieën

Technologie, techniek, landbouw, industriële processen > Elektronica en communicatietechnologie > Elektronicatechnologie > Elektronica: stroomketens en componenten

Technologie, techniek, landbouw, industriële processen > Energietechnologie en energietechniek > Elektrotechniek

Geef dit boek vandaag nog cadeau

Dat gaat heel eenvoudig

1 Voeg het boek toe aan je winkelwagentje en selecteer Als cadeau bezorgen 2 Je krijgt van ons per omgaand een voucher 3 Het boek wordt bezorgd op het adres van de ontvanger